Michelin разработала новую технологию измерения частиц, образующихся при износе шин
Современные экологические стандарты устанавливают требования не только к токсичности выхлопных газов, выделяемых автомобилями с ДВС. В перечень параметров, которые будут контролироваться на законодательном уровне, войдет также количество резиновых частиц, образующихся при истирании автомобильных шин. Например, в Европейской комиссии рассматривают возможность установления ограничений до 3 мг/км. Другими словами, износостойкость покрышек, которые будут допущены к эксплуатации, должна быть такой, чтобы в течение каждых 1000 км масса шины уменьшалась не более чем на 3 г в результате естественного износа.
Французская компания Michelin занимается исследованиями в этом направлении уже более 20 лет и имеет значительный прогресс. В частности, фирма представила оригинальную методику измерения количества частиц, которые образуются в результате истирания протекторов шин. Суть методики заключается в двухступенчатом измерении состава воздуха перед автомобилем и позади него.
Сначала специальные устройства всасывают воздух перед машиной, чтобы определить его фоновый состав. Во всасываемом воздухе отсутствуют частицы резины от шин этого самого автомобиля, хотя может присутствовать резиновая пыль, выбрасываемая из-под колес других транспортных средств. Затем аналогичным способом берутся пробы воздуха за колесами автомобиля, в которых уже присутствует резиновая пыль от машины с исследуемыми покрышками. Далее состав этих воздушных проб сравнивается, и определяется разница концентраций резиновых частиц. Совмещая полученные данные со скоростью или пробегом автомобиля, рассчитывается приблизительное количество резиновой пыли, выделяемой покрышками автомобиля.
Технология позволяет анализировать концентрацию частиц размером от 6 нм до 10 мкм (1 нм – одна миллиардная доля метра, 1 мкм – одна миллионная доля). В исследованиях, которые уже проводились специалистами Michelin, испытуемые шины показали результаты 1% РМ10 и 0,6% РМ2,5 (число после РМ означает диаметр анализируемых частиц в микрометрах).
